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    组合数字电路测试模式产生的9值算法

    • 摘要: 本文提出的算法可用每次敏化一条单通路的方法求出任一故障(包括那些需要多通路敏化的故障)的测试,最多只要试遍每一条单通路。这是由于用了以9值(0,1,D,,0/D,0/,1/D,1/,U)为基础的新运算而完成的。当要敏化一条选定的通路时,在该通路的敏化过程中对其他通路所赋的值允许它们被敏化或不被敏化。最后给出了各种试验结果。

       

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