所有
标题
作者
关键词
摘要
DOI
栏目
地址
基金
中图分类号
高级检索
首页
期刊介绍
期刊简介
数据库收录
编委会
现任编委会
历届编委会
期刊在线
预出版
当期目录
封面和目录
过刊浏览
浏览排行
下载排行
引用排行
高级检索
作者中心
投稿须知
科研诚信
投稿查稿
资料下载
常见问题
关联数据汇交
审稿中心
专家审稿
主编办公
领域编委办公
编辑办公
自荐审稿
联系我们
期刊征订
联系方式
English
所有
标题
作者
关键词
摘要
DOI
栏目
地址
基金
中图分类号
首页
期刊介绍
期刊简介
数据库收录
编委会
现任编委会
历届编委会
期刊在线
预出版
当期目录
封面和目录
过刊浏览
浏览排行
下载排行
引用排行
高级检索
作者中心
投稿须知
科研诚信
投稿查稿
资料下载
常见问题
关联数据汇交
审稿中心
专家审稿
主编办公
领域编委办公
编辑办公
自荐审稿
联系我们
期刊征订
联系方式
English
组合数字电路测试模式产生的9值算法
魏道政
摘要
HTML全文
图
(0)
表
(0)
参考文献
(0)
相关文章
施引文献
资源附件
(0)
摘要
摘要:
本文提出的算法可用每次敏化一条单通路的方法求出任一故障(包括那些需要多通路敏化的故障)的测试,最多只要试遍每一条单通路。这是由于用了以9值(0,1,D,,0/D,0/,1/D,1/,U)为基础的新运算而完成的。当要敏化一条选定的通路时,在该通路的敏化过程中对其他通路所赋的值允许它们被敏化或不被敏化。最后给出了各种试验结果。
HTML全文
参考文献
(0)
相关文章
施引文献
资源附件
(0)
/
下载:
全尺寸图片
幻灯片
返回文章
分享
用微信扫码二维码
分享至好友和朋友圈
返回
×
Close
导出文件
文件类别
RIS(可直接使用Endnote编辑器进行编辑)
Bib(可直接使用Latex编辑器进行编辑)
Txt
引用内容
引文——仅导出文章的Citation信息
引文和摘要——导出文章的Citation信息和文章摘要信息
×
Close
引用参考文献格式