摘要: 本文的目的是说明对存储器和 MSI/LSI 器件时间测试的要求。这些器件即使通过了功能和参数二种测试,如果不满足某些适当的时间要求,那么它们实际上仍然得不到应用。在存储器中,包括芯片选择、读出访问和写入访问在内的访问时间的测量和数据、芯片选择、地址建立以及保持的时间关系一样部是非常重要的。MOS 器件也必须在最大的时间范围内满足给定的功能。为了提供某些有关的和基本的资料。先调查一下普通半导体存储器器件(RAM)以及它们的时间