摘要: 通常,存储器采用奇偶检查方法。多数存储器的奇偶结构的设计是假设在某一瞬间只有一位或者一个独立的奇偶组出现故障。虽然这种假设,即只有一个故障出现,对磁心存储器是完全有效的,然而,由于半导体存储器的物理特性的不同,这种假设变得没有意义。本文介绍一种改进的奇偶结构,即使存储器内有几个组件出故障也可以检查出来。实际工作中遇到两种故障:(1)不管存入的是什么内容,总是读出逻辑“1”;(2)不管存入的是什么内容,总是读出逻辑“0”。从存储器实际工作情况出发,可以假设存储的内容完全是随机的,也就是说,每一位存“1”的几率和存“0”的几率相等,而与其它位的内容无关。