摘要: 本文讨论在自动测试程序产生(ATPG)系统中,为了有效地处理复杂的时序电路,利用和开发高级(功能级)基本逻辑元件的问题。文中引入基本元件测试问题的“序列解”概念,并介绍描述这种序列解的功能语言。对移位寄存器和计数器这两种基本元件提出了用于产生功能测试的模型,以及处理蕴涵,D驱动,线合理性的方法。介绍对D驱动和线合理性问题求单个向量和多重向量(序列)解的基本算法。