摘要: 随着计算技术的迅速发展,存储部件在整机硬件中所占的比重愈来愈大。目前大型计算机的主存储器容量大多在13万字以上。有人设想,用半导体存储器作主存,其容量可望达到8～23兆位组,周期在200～300毫微秒之间。从可靠性方面来看,主存储器是系统中薄弱环节之一。因此,如何提高存储器检测的效率和质量是当前面临的一个大问题。只有应用计算机,实现存储器检查的自动化,才能较好地解决这个矛盾。本文主要介绍一些具体的检测设备,对它们的系统结构和使用方法概述一下,从而说明用计算机实现存储器检测自动化的特点和效果。