摘要: 1.前言近来,磁盘介质的制造工艺大有改进,容量超过二亿字节的磁盘存储器已开始实用。为了研制出具有最佳价格-性能比的装置,磁盘的记录密度必须进一步提高。为此,需要获得有关介质特性和可靠性的详细测试数据,同时必须研究新的测试方法或测试系统。普通的磁盘测试装置主要是用作“好、坏”的简单判断,对高密度磁盘介质的测试不适用。因此,作者制造了一台由超小型计算机