摘要: 本文介绍一种校正半导体存儲器软硬二位错的方法,即对包含一个软错误和一个硬错误的二位错故障实现校正。通常的SEC/DED^*方法只能对一位错校正对二位错检测,若要校正二位错,则必须增加硬件冗余度,从而使成本增加。本文介绍的方法是利用SEC/DED校正方法与二次求反法相结合,使SEC/DED的校正能力从只能校一位错扩展到能校正二位错。从而提高了半导体存储器的可靠性。