摘要: 本文介绍了测试产生用的九值电路模型,它考虑了时序电路中故障多重的和重复的影响。利用这个模型所确定的测试序列,允许时序电路内部状态上故障多重的和重复的影响,因而能导出有效的测试序列。其他已知的方法,如D算法,虽然此时测试存在,却找不到任一个测试。本文定义了一个模型。所提供的测试产生方法与D算法相类似,异步电路必须变换成同步的或迭代的组合电路,并对这些电路的变型产生测试。而异步电路测试序列的有效性则需通过测试模拟建立,因为冒险或振荡可能使测试失效。文中举例说明了模型应用于异步电路"固定"型单故障和多故障的情况,并给出测试产生程序的一般框图。