摘要: 移位寄存器是数字计算机中常用的部件之一,随着我国半导体工业的发展,中、大规模的单片移位寄存器相继出现,为了使移位寄存器在计算机中能可靠地工作,对这些单片集成电路进行严格的检验是十分必要的。过去检验移位寄存器的方法有很多种,最简单的是按全“1”全“0”和1、0间隔的编码来进行检验,但这种检验方法是很不严格的。另一种方法是在移位寄存器中予先置入某一个二进制编码序列,然后把移位寄存器接成循环移位的工作状态,观察它能否始终保持这个序列。这种方法虽然比起上述简单的检验方法稍严格