摘要: 半导体存储器的生产表明,大量功能失效的芯片仅仅由于个别单元、或一行、一列失效,只要将这极少数失效单元剔除,则芯片仍可正常工作。分区替换法采取在存储系统设计时增加冗余组件的办法对部分单元失效存储组件中的失效单元实行替换,从而可使年导体存储器件的可用率提高2～3倍。本文详细论述了分区替换原理及实施方案;立足于国产测试仪提出了部分单元失效存储组件的测试方法;运用成品率模型讨论了分区替换法对可用率的贡献。分区替换法方法简便,代价小,效果好,尤其适用于成品率不高的半导体存储器。