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    关于时序电路的一个新的启发式测试码生成算法

    • 摘要: 本文描述的是为检测时序逻辑电路中的故障,计算测试码的一种新的启发式的算法。在该算法中,逻辑电路之逻辑单元的值表示为具有六个分量的布尔向量,本算法的主要过程是这些值之间的运算。本文介绍了该算法的一些基本原理,并举例说明了它们的应用过程,同时,通过一个实施系统介绍了我们的一些经验。

       

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